🇰🇷南韓·AI 新聞·2026年9月11日·來源: Eejournal
Imec 展示化學增幅光阻劑在 High NA EUV 微影技術的延伸應用
Imec 聯同 ASML 及材料供應商,展示了化學增幅光阻劑(CAR)用於 High NA EUV 微影技術的可行性。這項突破性進展允許在單次 High NA EUV 曝光後,對緊密間距的隨機邏輯結構進行圖案化,包括間距小至 22 納米的線條/間隔,以及中心距為 28 納米的通孔。這些成果在 2026 SPIE Photomask Technology + EUV Lithography Conference 上發表,將已建立的 CAR 技術應用延伸至 A14/A10 邏輯技術節點。這項發展對於滿足未來 AI 和 HPC 系統的運算密度需求至關重要,並支援歐洲 NanoIC 試點生產線,目標是超越 2 納米的系統單晶片。
Nexa 摘要
Imec 成功將化學增幅光阻劑(CAR)應用於 High NA EUV 微影技術,達到 22 納米間距,是半導體行業的一項重大技術成就。這意味著晶片製造商可以繼續依賴成熟、穩定且可製造的光阻劑技術,用於 A14/A10 等先進邏輯節點。對於亞洲晶圓代工廠和晶片設計師而言,這可以簡化向 High NA EUV 的過渡,潛在地縮短學習曲線並加速這些下一代製程的採用。將現有 CAR 技術用於金屬層 2 和通孔層等關鍵層的能力,提供了成本和效率優勢。與 ASML 和材料供應商的合作表明了在共同優化圖案化生態系統方面的整體方法。雖然這延長了 CAR 的壽命,但隨著埃米時代的進展,行業仍需關注在更緊密間距下的長期性能和良率。直接的好處是為亞洲製造商擴大其 AI 和 HPC 晶片生產能力提供了更清晰的途徑,但對成熟技術的依賴也可能預示著真正新穎的光阻材料開發步伐較慢。
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